Alpha
(더블빔 UV-Vis 분광광도계)
Alpha는 시간 경과에 따른 광량 변동으로 인한 측정 오차를 제거하도록 설계된 더블빔 UV-Vis 분광광도계입니다.
싱글빔 방식과 달리, 빛을 두 경로로 분할하여 기준(레퍼런스)과 시료를 동시에 측정함으로써 더 높은 정확도와 안정성을 보장합니다.
제품 개요 – Alpha
Alpha (더블빔 UV-Vis 분광광도계)
Alpha는 파장별 투과율과 흡광도를 정밀하게 측정하여 농도, 순도 등 신뢰할 수 있는 정량 데이터를 제공하는 UV-Vis 분광광도계입니다.
일상 분석부터 고급 연구까지 폭넓은 응용 분야에 적합하며, 환경, 바이오테크놀로지, 화학 분야에서 널리 사용됩니다.
Alpha는 Photometric, Quantitation, Spectrum, Kinetics의 네 가지 측정 모드를 지원하며, 효율적인 조작을 위한 직관적인 터치스크린 인터페이스의 내장 소프트웨어를 갖추고 있습니다.
첨단 광학 설계와 마이크로 스테핑 제어 기술로 안정적이고 정확한 측정을 보장합니다.
일상적인 실험실 사용을 위한 설계
Alpha는 현대 실험실이 가장 필요로 하는 요소에 집중합니다:
정확도, 안정성, 그리고 운용 효율성.
직관적인 인터페이스와 첨단 광학 설계로 최소한의 사용자 교육만으로도 정밀하고 신뢰할 수 있는 측정이 가능하여, 일상 분석과 고급 연구 환경 모두에 이상적입니다.
주요 장점
사용 편의성
PC 수준의 기능을 갖추어 외부 컴퓨터 없이도 빠르고 직관적인 조작이 가능합니다.
뛰어난 분석 속도
빠르고 유연한 소프트웨어를 기반으로 기존 시스템 대비 1.5배 이상 빠른 분석을 제공하여 신속하고 정확한 결과를 제공합니다.
콤팩트 설계
공간 효율적이고 콤팩트한 설계로 실험실 환경을 보다 효과적으로 활용할 수 있습니다.
신속한 기술 지원
설계부터 제조까지 모든 과정을 국내에서 수행하여 빠르고 신뢰할 수 있는 서비스 지원을 제공합니다.
폭넓은 확장성
자외선부터 가시광선까지 넓은 범위에서 고정밀, 고분해능 측정이 가능하여 다양한 응용 분야에 유연하게 대응합니다.
필요에 맞는 분광광도계를 선택하세요
Alpha
더블빔 광학 시스템을 통해 Alpha는 광량 변동으로 인한 측정 오차를 최소화하여 매우 정확하고 재현성 있는 결과를 보장합니다.
연구 및 까다로운 분석 환경을 위해 설계되어, 첨단 성능과 직관적인 사용자 경험을 결합합니다.
POP
POP는 일상적인 실험실 작업의 간편함과 효율성에 중점을 둡니다.
싱글빔 설계로 빠르고 간단한 측정을 제공하여, 사용 편의성이 중요한 일상 분석, 교육, 대량 처리 환경에 이상적입니다.
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Alpha |
POP |
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측정 방식 |
더블빔 |
싱글빔 |
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응용 분야 |
연구 / QC |
일상 분석 / 교육 |
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안정성 |
우수 |
기본 |
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분광 대역폭 |
1.0 nm |
< 1.8 nm |
|
파장 정확도 |
<± 0.3 nm (For entire range) <± 0.1 nm (at 656.1 nm) |
< ±0.5 nm |
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측광 범위 |
Abs −4 to +4 |
Abs −3 to +3 |
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데이터 신뢰성 |
높은 재현성 |
표준 |
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셀 홀더 |
멀티셀 (8셀) |
멀티셀 (8셀) |
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디스플레이 |
7-inch (1280 × 800) |
7-inch (1280 × 800) |
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무게 |
10.5 kg |
10.5 kg |
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가격 포지션 (POP 대비) |
100% |
~85–90% |
대표 응용 분야
성능 및 기술
파장 정확도 및 반복성
본 시스템은 190–1100 nm 범위에서 ±0.3 nm 이내의 파장 정확도와 ±0.1 nm 이내의 파장 재현성을 달성합니다.
분광 및 피크 성능은 NIST 소급성 산화홀뮴 유리 필터를 사용하여 검증되었습니다.
여러 기준 파장에 걸쳐 측정값이 규정된 기준과 근접하게 일치하여 전 항목 PASS 검증을 달성하고 매우 신뢰할 수 있는 분석 성능을 보장합니다.
베이스라인 평탄도
베이스라인 평탄도는 200–1100 nm 파장 범위에서 ±0.00025 Abs 이내로 유지되어 안정적이고 신뢰할 수 있는 측정 성능을 보장합니다.
측정된 피크 대 피크 베이스라인 변동은 0.00002 Abs로 ±0.0005 Abs 허용 범위 이내에 충분히 들어와 우수한 베이스라인 안정성을 입증합니다.
노이즈
본 시스템은 700 nm에서 RMS ≤ 0.05 mAbs, 240 nm에서 RMS ≤ 0.4 mAbs의 노이즈 성능 기준을 충족하여 전 파장 범위에서 안정적이고 신뢰할 수 있는 측정을 보장합니다.
700 nm(텅스텐 & 할로겐 램프)에서 측정된 노이즈 수준은 피크 대 피크 값 0.03 mAbs, RMS 값 0.008 mAbs로 ≤ 0.30 mAbs (P-P) 및 ≤ 0.05 mAbs (RMS) 허용 범위 이내에 충분히 들어옵니다.
240 nm(중수소 램프)에서 측정된 노이즈 수준은 피크 대 피크 값 0.07 mAbs, RMS 값 0.022 mAbs로 마찬가지로 ≤ 2.4 mAbs (P-P) 및 ≤ 0.4 mAbs (RMS) 허용 범위 이내에 충분히 들어옵니다.
이러한 결과는 우수한 노이즈 성능을 입증하며 매우 안정적이고 정밀한 분석 데이터를 제공하는 본 시스템의 역량을 확인시켜 줍니다.
성능 검증
Alpha는 검증된 베이스라인 안정성과 측광 정확도를 통해 뛰어난 측정 신뢰성을 제공합니다.
베이스라인 평탄도는 200–1,100 nm 범위에서 ±0.00025 Abs 이내로 유지되며, 측정된 피크 대 피크 변동은 단 0.00002 Abs로 ±0.0005 Abs 허용 범위를 훨씬 밑돕니다. 이는 정밀한 흡광도 측정을 위한 매우 안정적인 베이스라인 성능을 보장합니다.
측광 정확도는 NIST 소급성 중크롬산칼륨 표준물질(SRM 935a)을 사용하여 검증되었으며, 1.0 Abs에서 ±0.005 Abs 이내의 정확도를 달성합니다.
또한 반복 측정을 통해 0.000009 Abs의 표준편차로 우수한 재현성을 확인했습니다.
이러한 결과는 폭넓은 응용 분야에 걸쳐 매우 정확하고 안정적이며 신뢰할 수 있는 분석 데이터를 제공하는 Alpha의 역량을 입증합니다.
측정 모드 및 분석 성능
Alpha는 여러 분석 모드를 하나의 직관적인 플랫폼에 통합합니다:
Photometric 모드
선택한 파장에서 흡광도 또는 투과율을 측정
Spectrum 모드
사용자가 정의한 파장 범위에 걸쳐 전체 스펙트럼을 획득
Quantitation 모드
검량선을 사용하여 농도 분석을 수행
Kinetics 모드
시간에 따른 흡광도 변화를 모니터링
이러한 모드를 통해 Alpha는 일상적인 측정부터 고급 반응속도 연구까지 다양한 분석 요구에 매끄럽게 대응할 수 있습니다.
내장 테스트 (BIT)
본 시스템은 전원을 켤 때 자동으로 자가 진단 점검을 수행하여 CPU, 메모리, 모터, 램프, 교정 등 주요 구성 요소의 상태를 확인합니다.
결과는 항목별로 표시되어 사용자가 정상 작동을 신속하게 확인하고 최적의 시스템 성능을 유지할 수 있습니다.
자가 진단 항목은 다음과 같습니다: CPU & 메모리, 파장 모터, 셀 모터, 필터 모터, 램프 모터, 텅스텐 램프, 중수소 램프.
소프트웨어 솔루션
Alpha는 측정 및 데이터 처리부터 리포트 작성 및 규정 준수까지 전체 분석 워크플로우를 간소화하도록 설계된 통합 소프트웨어 생태계를 제공합니다.
본 시스템은 직관적인 장비 제어와 강력한 데이터 관리 및 규정 지원을 결합하여, 사용자가 통합된 환경 내에서 효율적으로 분석을 수행하고 결과를 관리하며 데이터 무결성을 보장할 수 있게 합니다.
View는 익숙한 데스크톱 환경에서 효율적인 장비 제어와 데이터 관리를 위해 설계된 Windows 기반 PC 소프트웨어입니다.
실시간 측정 및 데이터 분석부터 후처리와 리포트 생성까지 전체 워크플로우를 지원합니다.
Secure는 규제 환경을 위한 완전한 추적성과 데이터 무결성을 지원하는 선택형 규정 준수 소프트웨어입니다.
View와 연동하여 모든 사용자 활동을 기록하고 모니터링하며, FDA 21 CFR Part 11 요건 준수를 지원합니다.
사양
측광 시스템
더블빔 방식
광원
텅스텐 할로겐 램프, 중수소 램프
(내장 광원 자동 교체 모터)
검출기
실리콘 포토다이오드
분광 대역폭
1.0 nm (190 to 1,100 nm)
파장 범위
190 to 1,100 nm
파장 표시 (설정)
0.05 nm
파장 정확도
<± 0.3 nm (For entire range)
<± 0.1 nm (at 656.1 nm)
파장 반복성
<± 0.1 nm
파장 이동 속도
25,000 nm/min
스캐닝 속도(최대)
6,000 nm/min
램프 교체 파장
340 to 410 nm (Default 370 nm)
측광 범위
4 Abs
측광 표시
흡광도: -4 A ~ 4 A
투과율: 0% ~ 400%
측광 정확도
<± 0.002 Abs (0 to 0.5 Abs)
<± 0.004 Abs (0.5 to 1 Abs)
<± 0.006Abs (1 to 2 Abs)
(NIST SRM 930d/1930 또는 동등품)
환경 요건
온도: 15 °C ~ 35 °C
습도: 30 % ~ 80 %
베이스라인 안정성
<0.0003 Abs/h
(700 nm, 1시간 예열 후)
베이스라인 평탄도
<0.0005 Abs rms
(190 ~ 1,100 nm, 1시간 예열 후)
측광 반복성
± 0.0002Abs at 0.5 Abs
± 0.0006Abs at 1.0 Abs
± 0.0010Abs at 2.0 Abs
미광
< 1.00 % (at 198 nm with 1.2% KCl)
< 0.05 % (at 220 nm with 0.1% NaI)
< 0.05 % (at 340 nm with 0.5% NaNO2)
측광 노이즈
< 0.00005 Abs rms (at 700 nm)
분광기
Czerny-Turner 방식, 1,200 lines/nm 블레이즈 회절격자
표준 셀 홀더
자동 회전식 8포지션 멀티셀 홀더
운영 체제 (OS)
Windows 10 (임베디드 PC)
디스플레이
8인치 컬러 LCD 터치스크린
제어 옵션
독립형(스탠드얼론), PC
크기(W*D*H)
520 × 500 × 200 mm
전원 요건
AC 100-240 V, 50/60 Hz, 140 VA
무게
14 kg
PC 소프트웨어
(옵션) FDA 21 CFR Part 11 준수를 위한 Secure
(옵션) 고급 측정을 위한 View
연결성
RJ45 ethernet, USB A type * 2, RS-232 * 1, USB B type * 1
지원
다운로드
응용 분야
문제 해결
-
How to open the Lamp cover for Alpha
How to open the Lamp cover for Alpha Procedure on how to open the lamp cover in Alpha#TS-AD1032-001 Introduction Procedure
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